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振动和扫频试验

半导体产品检测/振动和扫频试验

半导体产品是现代电子技术的核心，其质量和性能直接影响到电子产品的性能和可靠性。第三方检测机构对半导体产品进行严格的测试，包括物理性能、电学性能、可靠性等方面的测试，以确保半导体产品的质量和性能符合相关标准和要求。

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**国家检测标准**：GB/T 4937.12-2012《半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动》

**检测流程**：

1. 准备样品：确保样品已按照要求进行固定，引出端和电缆也需安全固定，避免额外的引线共振。

2. 设置参数：振动台应设定为简谐振动模式，振幅或峰值加速度应满足标准要求（如振幅为1.5mm或峰值加速度为200m/s²，取较小者）。

3. 扫频：振动频率在20Hz至2000Hz范围内近似对数变化，从20Hz至2000Hz再回到20Hz，整个频率范围的振动时间不少于4分钟。

4. 重复测试：在X、Y、Z三个方向上各进行4次这样的循环，共12次。

5. 数据记录与分析：记录测试过程中的数据，分析样品在振动条件下的性能变化。

**检测方法**：使用专业的振动台进行扫频振动测试，通过监测样品的电性能参数变化来评估其可靠性。