高加速无偏置寿命试验-半导体产品检测-第三方产品检测机构-博航检测【官网】

高加速无偏置寿命试验

半导体产品检测/高加速无偏置寿命试验

半导体产品是现代电子技术的核心，其质量和性能直接影响到电子产品的性能和可靠性。第三方检测机构对半导体产品进行严格的测试，包括物理性能、电学性能、可靠性等方面的测试，以确保半导体产品的质量和性能符合相关标准和要求。

15年认证经验

300+专家团队

8000+客户案例

在线咨询全国24小时服务电话：1818 1987 182

扫码咨询
业务专家顾问1818 1987 182国家专业检测机构品牌

**国家检测标准**：JEDEC JESD22-A110E《Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST)》

**检测流程**：

1. 准备样品：将样品置于DHT试验箱中，确保样品无偏置状态。

2. 设置参数：将DHT试验箱的温度设定为130°C，湿度设定为85%RH。

3. 施加应力：在规定的时间间隔（如96小时、168小时等）内持续施加高温高湿应力。

4. 监测性能：在测试过程中定期取样进行电性能测试，记录性能参数变化。

5. 结果分析：分析样品在高加速无偏置条件下的寿命和失效模式。

**检测方法**：使用DHT试验箱模拟高温高湿环境，通过监测样品的电性能参数变化来评估其可靠性。